Háromdimenziós, gyors, kétfoton-pásztázó eljárások sejt- és hálózatszintű idegsejtvizsgálatokhoz / Szalay Gergely [et al.]
Bibliogr.: p. 2126. - Abstr. hun., eng.
In: Orvosi Hetilap. - ISSN 0030-6002, eISSN 1788-6120. - 2015. 156. évf. 52. sz., p. 2120-2126. : ill.
Bevezetés: A kétfoton-mikroszkópia ideális eszköz annak tanulmányozására, hogy a különböző jeleket hogyan dolgozza fel az élő agyszövet. Kezdetben a pásztázó képalkotással teljes képeket készítettek, ami nem alkalmas gyors 3D-s jelek, mint például akciós potenciálok nyomon követésére. Célkitűzés: A szerzők célja különféle neuronalis aktivitás mintázatok mérése volt optikai úton. Módszer: A szerzők új lézerpásztázó módszereket dolgoztak ki és kifejlesztették az ezeket megvalósító mikroszkóphardvert. Eredmények: Többszörös vonal menti pásztázás lehetővé teszi, hogy a kísérletező több, számára érdekes mintarészletet mérjen, ennek eredményeképpen nemcsak a mintavételi sebesség nő, hanem a fluoreszcens tranziensek jel-zaj viszonya is. Ezen elvet továbbvíve kifejlesztettek egy akusztooptikai eltérítőkön alapuló 3D lézerpásztázó kétfoton-mikroszkópot, amely milliméteres mélységelérési tartománnyal és milliszekundum alatti időfelbontással rendelkezik. Használhatóságának bizonyítására visszaterjedő akciós potenciálok terjedését vizsgálták több száz mikrométer hosszú nyúlványokban, továbbá egérlátókéregben idegsejtek százaiban mérték szimultán a sejtek Ca2+-tranzienseit 3D véletlen címzésű üzemmódban, in vivo. Következtetések: A pásztázás leszűkítése az érdekes területekre nagy jel-zaj viszonyt és gyors ismétlési sebességet tesz lehetővé, miközben a kétfoton-mikroszkópok nagy behatolási mélysége is megtartott.