Egyszerű keresés   |   Összetett keresés   |   Böngészés   |   Kosár   |   Súgó  


Részletek

A cikk állandó MOB linkje:
http://mob.gyemszi.hu/detailsperm.jsp?PERMID=32049
MOB:1990/4
Szerzők:Török Szabina; Sándor Szvetlana; Röntgenemissziós analitikai szeminárium 93.) (1989)
Tárgyszavak:ELECTRONMICROSCOPOS MICROANALYSIS
Folyóirat:Izotóptechnika, diagnosztika - 1990. 33. évf. 1-2. sz.


  Mikroszkópikus részecskék elemzése szinkrotronsugárzás keltette röntgenfluoreszcenciával (SRXRF) és elektron-mikropróba analizissel (EPMA) / Török Szabina, Sándor Szvetlana
  Abstr. hun., rus., eng. - Elhangzott: 3. Röntgenemissziós analitikai szeminárium, Veszprém, 1989. nov. 27-29.
  In: Izotóptechnika - Diagnosztika. - ISSN 0865-0497. - 1990. 33. évf. 1-2. sz., p. 140-145.